 |
 |
 |
 |
Pracownia Mikroskopii Elektronowej i Świetlnej
Możliwość realizacji badań i analiz:
- budowy strukturalnej materiałów inżynierskich;
- powierzchni przełomów zmęczeniowych;
- geometrycznej struktury powierzchni.
————————————————————————————————-
Mikroskopia SEM
Skaningowy mikroskop elektronowy JEOL JSM-6610
Wysokorozdzielczy mikroskop wyposażony w detektory: SE , BSE, Oxford X-Max EDS.
Podstawowe dane techniczne:
- napięcie: 0,3 – 30 kV,
- powiększenie: 5 – 300 000x,
- rozdzielczość : 3,0 nm przy 30kV,
- max. rozmiary próbek: wysokość – 80 mm, średnica – 200 mm.
Mikroskopia TEM
Transmisyjny mikroskop elektronowy JEOL JEM-1230
Podstawowe dane techniczne:
- max. napięcie : 120 kV ;
- maks. Powiększenie: x600 000;
- rozdzielczość: 0,4nm;
- kąt pochylania goniometru: ±45º.
Mikroskopia Konfokalna
Skanujący laserowy mikroskop konfokalny OLYMPUS LEXT OLS 4100
Podstawowe dane techniczne:
- rozdzielczość pomiarów chropowatości : 10 nm;
- powiększenie: x108 – x17280;
- max. wymiary próbek: 300x300x100 mm.
Działalność badawczo-usługowa:
- jakościowa i ilościowa charakterystykę makro- mikro- i nanostruktury materiałów metodami mikroskopii świetlnej i elektronowej;
- analiza mikrostruktury i pomiar parametrów mikrostruktury z wykorzystaniem różnych metod obrazowania i metod dyfrakcyjnych;
- analiza dyfrakcyjna: selektywna dyfrakcja elektronów (SAED);
- identyfikacja faz w materiałach wielofazowych i wielowarstwowych metodami dyfrakcyjnymi i spektroskopowymi wspomaganymi programami komputerowymi;
- analiza składu chemicznego faz (jakościowa i ilościowa) metodą energii charakterystycznego promieniowania rentgenowskiego (EDX) wraz z możliwością zbierania map rozmieszczenia pierwiastków na powierzchni próbki .
Osoba do kontaktu:
dr hab. inż. Marcin WACHOWSKI, prof. uczelni
tel. 261 839 245