Możliwość realizacji badań i pomiarów:

  • właściwości mechanicznych materiałów inżynierskich poddanych obciążeniom statycznym, cyklicznie zmiennym i dynamicznym w zakresie obciążeń od 0,5 do 500 kN,
  • przemieszczeń i lokalnych odkształceń z możliwością tworzenia obrazów (rozkładów) przemieszczeń i odkształceń badanych elementów w trzech kierunkach osi układu współrzędnych,
  • zjawisk dynamicznych i szybkozmiennych z możliwością rejestracji do 500 000 klatek na sekundę,
  • termograficznych wraz z analizą termogramów w zakresie temperatur od -20 do 3000 °C.

————————————————————————————————

Maszyny do badań wytrzymałościowych

Landmark 370.50 8802MTL Criterion C42
Maksymalne obciążenie 500 kN 250 kN 5 kN
Przestrzeń robocza 2000×762 mm 2000×800 mm 700×640 mm
Informacje dodatkowe Maksymalna prędkość obciążenia – 25 m/s Maksymalny moment obrotowy – 1100Nm

 

DIC Dantec Q-400 ESPI Dantec Q-300
Zakres pomiaru przemieszczeń od 10-8 m do 1 m od 3×10-8 m do 10-4 m
Obszar pomiarowy Zależny od wielkości elementu 200×300 mm
Informacje dodatkowe Pomiary przemieszczeń w trzech kierunkach (3D) Pomiary przemieszczeń w trzech kierunkach (3D)

————————————————————————————————

Systemy wizyjne do rejestracji zjawisk dynamicznych i temperaturowych

Photron Fastcam SA4 FLIR SC7500-MB
Rozdzielczość 1024×1024 pikseli Rozdzielczość 320×256 pikseli
Maksymalna prędkość pomiaru 5×106 fps Zakres pomiarowy temperatury od -20oC do 1500 oC
Migawka od 16 ms do 1µs Dokładność ±1°C lub ±1% 36°

Działalność badawczo-usługowa:

  • wykonywanie badań wytrzymałościowych i zmęczeniowych próbek lub elementów maszyn przy obciążeniach stałych, dynamicznych, cyklicznie zmiennych oraz w złożonych stanach naprężeń.
  • realizacja pomiarów przemieszczeń i odkształceń elementów modelowych i rzeczywistych metodami optycznymi, możliwość walidacji metody elementów skończonych.
  • wykonywanie pomiarów procesów dynamicznych i szybkozmiennych przy zachowaniu wysokiej rozdzielczości (do 1 mln pikseli).
  • realizacja badań zjawisk termicznych wymagających dużej czułości i częstotliwości rejestracji danych.

 

Osoba do kontaktu:
dr inż. Janusz TORZEWSKI
tel. 261 837 285
mail: janusz.torzewski@wat.edu.pl